Двое сотрудников ОТК Intel проводят впечатляющий эксперимент с микрочипами на глубине 650 метров в пустыне Чиуауа в Нью-Мексико.

Норберт Сейферт и Мэтью Кирш тестируют, насколько некоторые серверные устройства Intel чувствительны к сверхслабому излучению, которое может приводить к мельчайшим ошибкам. Эти ошибки происходят чрезвычайно редко (точные цифры — закрытая информация) и могут быть скорректированы программным образом, но Intel хочет сократить их количество настолько, насколько это в принципе возможно — это особенно важно для критических серверных компонентов.

Норберт и Мэтью на дне соляного рудника рядом с головной частью горнопроходческой машины.

Эксперимент требует, чтобы время от времени Норберт и Мэтью в кромешной тьме втискивались в тесный лифт, который опускается на самое дно соляного рудника, расположенного на глубине более чем полкилометра под пустыней Чиуауа.

С поверхности Земли трудно отличить слабое космическое излучение (в основном это нейтроны, которые попадают к нам из космоса), от другого вида слабого излучения — альфа-частиц, которые регулярно прилетают от совершенно бытовых предметов вроде письменного стола, наручных часов или даже бананов.

Есть и другие варианты: часть излучения может исходить от «упаковки», в которую завернут микрочип — речь идет о тех материалах, в которые упаковывается маленький кремниевый кристалл для того, чтобы его можно было присоединить к материнской плате.

Вот почему Норберт и Мэтью хотели протестировать микрочипы в изолированной среде. Так что компания Intel получила доступ к экспериментальному заводу по переработке отходов, входящему в систему Минэнергетики США — завод будет расположен в соляном руднике сверхглубокого залегания, на территории которого правительство США планирует на постоянной основе складировать отходы уранового производства. Над рудником — более чем полкилометра скалистой породы, так что радиация не проходит ни вовнутрь, ни наружу.

На дне рудника Сейферт и Кирш собрали массив из большого количества устройств статической оперативной памяти, произведенных по 45-нанометровой технологии, запустили его и начали собирать информацию об ошибках, которую вели на протяжении года из офиса в Хиллсборо в штате Орегон.

Согласно результатам их исследования, более 90 процентов всего ионизирующего излучения, вызывающего те самые редкие ошибки, приходит извне — не из самого чипа и не из его упаковки.

Это очень важный результат для серверов, которые используются в критических приложениях — речь идет о серверных системах, управляющих транспортом, промышленными объектами, финансовыми предприятиями и другими важнейшими составляющими нашей жизни.